Ключевые слова: patents, fabrication, LTS, Nb3Sn, matrix
Hasegawa M., Nagai T., Kosuge M., Kubo Y.(Kubo.Yoshio@ds.MitsubishiElectric.co.jp), Egawa K., Sone T., Ikeda B.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, wires, assembled conductors, internal tin method, ac losses, Jc/B curves, experimental results, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.